Gerätebeschreibung

Zur Bestimmung der thermischen Charakteristik bzw. Impedanz von Leistungshalbleitern wird über das herkömmliche Thermisch Transient Analyse Verfahren (TTA) das Device under Test (DUT) über eine elektrische Anregung zunächst in eine Heiz- und anschließend in eine Abkühlphase gebracht. Die Messung des Temperaturverhaltens beim Abkühlvorgang des Leistungshalbleitermoduls erlaubt Rückschlüsse auf die thermischen Widerstände und Kapazitäten des Modulschichtaufbaus. Je geringer die verschiedenen thermischen Kapazitäten der Modulschichten jedoch sind, desto kritischer wird der Umschaltvorgang von der Heiz- auf die Messphase. Hierbei stellen bei der elektrischen Anregung die maximal mögliche Schaltgeschwindigkeit, das Rausch- und ein etwaiges Schwingverhalten Problematiken dar. Ziel des Laser-TTA Messaufbaus ist es, die thermische Impedanz des Moduls statt elektrisch über einen auf das DUT fokussierten Laserstrahl anzuregen. Dieses Vorgehen soll einen möglichst schnellen Übergang zwischen der Heiz- und Messphase ermöglichen, welcher Rückschlüsse auf das thermische Impedanzverhalten selbst sehr dünner Schichten des Moduls zulassen kann.

 

Geräteinformationen

HerstellerTHI
ModellPrototyp
StandortG008
AnsprechpartnerinDipl. Ing. (FH) Kirsten Windhorn-Witt

 

Ansprechpartnerin

Laboringenieurin
Dipl. Ing. (FH) Kirsten Windhorn-Witt
Tel.: +49 841 9348-2844
Raum: C307
E-Mail:

Offene Stellen

Bei Interesse an offenen Stellen für Studentische Arbeiten innerhalb der Forschungsgruppe, senden Sie bitte eine Mail mit Lebenslauf an assistenz-iimo-elger@thi.de.